　　粉末样品要求：干燥，在空气中稳定，粒度小于20μm，粉末样品量约需2~4g；块状样品要求：测试面清洁平整，也可是板状、片状或丝状，带衬底材料的薄膜或带基材的镀层等原始形状，厚度≤3cm，直径≤3cm。特殊样品要求：微粉样品需要颗粒均匀细小，性质稳定，对Si无腐蚀性。条带需要平整光滑且不能太厚。若样品中含有Fe、Co、Ni等荧光物质，请告知

a、X射线衍射仪技术（XRD）

X射线衍射仪技术(X-raydiffraction，XRD)。通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。

b.X射线衍射仪技术（XRD）可为客户解决的问题

（1）当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。

（2）很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度。

（3）新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标。

（4）产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用XRD可以快捷测定微观应力。

（5）纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。

　总结：

X射线衍射仪和散射仪是材料表征的有力工具。不论是基础研究还是工业质量控制，我们都能为客户提供合适的解决方案。

1. 物相定性分析

2. 物相定量相分析

3. 结构解析

4. 双体分布函数（PDF）分析

5. 小角散射

6. x射线反射率

7. 高分辨x射线衍射

8. 倒易空间强度分布图（RSM）

9. 残余应力

10. 织构分析

可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。对无机材料以及部分高分子多晶体材料进行定性、定量分析，对固体材料进行择优取向分析以及残余应力分析，测定未知晶体结构。广泛应用于材料化学、化学工程、医药卫生、商检质检等不同科学研究领域，各种材料结构分析，如金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。

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