X射线衍射XRD

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发表时间：2020-06-29 17:23作者：铄思百检测来源：铄思百检测

X‍射线衍射XRD：利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。

应用范围：

物相分析，可以对物质的组成及物相进行表征分析；

定性、定量分析，通过精修可对物质的各组分进行精确的定量分析；

高温原位分析，通过高温原位可以研究温度对物质晶型转变的影响。

检测项目：

广角衍射，小角衍射，薄膜衍射，从小角到广角，掠入射，物相半定量，变温XRD

制样要求：

固体粉末：均匀干燥，粒度小于70um(过200目)，质量不少于100 mg;

块体、金属及薄膜样品：需加工出平整的表面，长宽都为1.5-1.7厘米厚度小于5毫米。

高温XRD样品的测试温度要低于熔点（参考热重测试数据）。

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X射线衍射XRD

原理：X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的原子或离子/分子所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而影响散射的X射线的强度增强或减弱。由于大量原子散射波的叠加，互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。

满足衍射条件，可应用布拉格公式：2dsinθ=λ

应用已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析;另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。