GB_T 27760-2011 利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法

二维码

发表时间：2019-10-25 17:03作者：武汉铄思百检测技术有限公司来源：铄思百

GB-T 27760 2011硅（111）晶体表面原子台阶校准原子力显微镜高度测量方法亚纳米

本标准规定了用si（111）晶体表面原子台阶高度样品校准原子力显微镜z标度的方法。AFM适合于在大气或真空环境中工作，其Z向放大倍数达到最大水平，即Z方向位移在纳米和[亚纳米 ]的范围内，这是AFM检测半导体表面时经常使用的检测范围；光学器件表面及其他高科技元件表面。本标准并未说明所有可能的安全问题。在本标准之前的应用中，用户有责任采取适当的安全卫生措施，并确保满足国家有关规定的条件。注：本标准准中标准值为国际单位制规定值，括号内数值仅供参考。afm测试

发布时间：2011-12-30 实施时间：2012-05-01

发布部门：国家质量监督检验检疫总局

铄思百检测动态

武汉铄思百检测简介
武汉铄思百检测，是华中地区专业的第三方检测平台，提供材料检测服务，常规测试3-5个工作日出检测结果，铄思百检测专业的实验室仪器，专业科研团队硕博测试工程师90%，铄思百检测，坚持“恪守信誉、质量第一、客户第一”
武汉铄思百检测测试项目
XPS测试，ICP测试，SEM测试，EDS测试，TG测试，EBSD测试，TEM测试，BET测试,XRD测试，红外测试，拉曼测试，固体核磁，元素分析，离子减薄制样，FIB制样，等等更多测试请咨询在线客服
武汉铄思百检测测试流程
测试委托单

测试流程

1、客户提出测试要求（在线预约）

2、细节沟通（联系在线QQ）

3、下载填写测试委托单

4、测试委托单和样品邮寄

5、联系客服付款

6、安心等待

7、接受数据发票

8、后期服务

以上是对于测试的相关介绍，如有其它检测需求可以咨询实验室工程师，为您一对一服务。

温习提示

1、不定期推出各种优惠活动，详情通过电话、在线客服确认测试条件、检测费用、检测周期等。