GB T36655-2018电子封装用球形硅粉中α晶二氧化硅含量试验方法XRD法

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发表时间：2019-10-21 14:47作者：武汉铄思百检测技术有限公司来源：铄思百

XRD法测定电子封装用球形二氧化硅粉末中的α-结晶二氧化硅含量，以及其它非晶二氧化硅的含量也可根据该标准进行测试。旋转靶多晶x射线衍射法的一般原理

发布时间：2018年9月17日实施时间：2019年1月1日

发布部门：国家市场监督管理总局

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