仪器名称：

原子力显微镜（AFM）

型号：

日本精工SPA400

布鲁克Dimension Edge

检测项目：

高度图

相图

表面粗糙度

三维立体图

其他

设备性能：

AFM分辨率：横向分辨率：0.2 nm（XY方向）

扫描范围：XYZ

标准扫描器：30 μm×30 μm×5 μm

深域扫描器：55 μm×55 μm×13 μm

狭域扫描器：2.5 μm×2.5 μm×0.3 μm

扫描器控制精度：XY轴控制：16位精度；Z轴控制：26位精度

Z轴趋近方式：自动趋近

Z轴最大可趋近范围：10 mm

最大样品尺寸：φ24 mm×8 mm

温度控制范围：室温至300 ℃

应用范围：

广泛地应用于表面分析的各个领域,通过对表面形貌的分析、归纳、总结,以获得更深层次的信息。它可以用于研究金属、半导体和非金属类材料的表面形貌、表面重构、摩擦力，获得相界、分形结构和横向力等信息的空间三维图像。

制样要求：

粉末样10mg，块状、薄膜样品最大1×1cm，厚度最厚0.5cm，液体样品5ml

样品上下表面整洁，没有油渍灰尘等污染物

仪器最大扫描范围15×15×3um

若是纳米颗粒样品，先用一定的分散剂超声分散后，取一滴在云母等很平整的基底上，干燥后测试。若没有云母片，请在测试前到本实验室来取。

如果样品表面有无机盐，先用水等清除盐分后来测试，因为盐分结晶影响形貌的扫描。

如果是要测试薄膜厚度，预先把薄膜和基底作出一个边界清楚的台阶。